atom qüvvəsi afm mikroskopu
Atom Gücü Mikroskopu (AFM), izolyatorlar da daxil olmaqla bərk materialların səth quruluşunu öyrənmək üçün istifadə edilə bilən analitik alətdir.Sınaq ediləcək nümunənin səthi ilə mikro qüvvəyə həssas element arasında son dərəcə zəif atomlararası qarşılıqlı əlaqəni aşkar edərək, maddənin səth quruluşunu və xassələrini öyrənir.Bir cüt zəif qüvvə son dərəcə həssas mikro-konsol ucu sabitlənəcək, kiçik ucun digər ucu nümunəyə yaxın olacaq, sonra onunla qarşılıqlı əlaqədə olacaq, qüvvə mikro-konsol deformasiyasını və ya hərəkət vəziyyətini dəyişəcək.Nümunəni skan edərkən, sensor bu dəyişiklikləri aşkar etmək üçün istifadə edilə bilər, nano rezolyusiya məlumatının səth morfologiyasını və səth pürüzlülük məlumatını əldə etmək üçün güc məlumatlarının paylanmasını əldə edə bilərik.
★ İnteqrasiya edilmiş skan zondu və nümunə stag anti-müdaxilə qabiliyyətini gücləndirdi.
★ Dəqiq lazer və zond yerləşdirmə cihazı zondun dəyişdirilməsini və ləkənin tənzimlənməsini sadə və rahat edir.
★ Nümunə zondundan istifadə etməklə, iynə nümunənin skanına perpendikulyar ola bilər.
★ Avtomatik impulslu motor sürücüsünə nəzarət nümunə zondunun şaquli yaxınlaşması, skan sahəsinin dəqiq yerləşdirilməsinə nail olmaq üçün.
★ Nümunə skanerləmə sahəsi yüksək dəqiqlikli mobil cihazın dizaynından istifadə etməklə sərbəst şəkildə hərəkət edə bilər.
★ optik yerləşdirmə ilə CCD müşahidə sistemi real vaxt rejimində müşahidə və zond nümunəsinin skan sahəsinin yerləşdirilməsinə nail olur.
★ Modulizasiyanın elektron idarəetmə sisteminin dizaynı dövrənin saxlanmasını və davamlı təkmilləşdirilməsini asanlaşdırdı.
★ Çoxlu skan rejiminə nəzarət sxeminin inteqrasiyası, proqram təminatı sistemi ilə əməkdaşlıq edir.
★ sadə və praktiki gücləndirilmiş anti-müdaxilə qabiliyyəti olan yay asma.
| İş rejimi | FM-Tapping, isteğe bağlı kontakt, sürtünmə, faza, maqnit və ya elektrostatik |
| Ölçü | Φ≤90mm,H≤20mm |
| Skanlama diapazonu | 20 mmmin XYistiqamət,Z istiqamətində 2 mm. |
| Skanlama həlli | XY istiqamətində 0.2nm,Z istiqamətində 0.05nm |
| Nümunənin hərəkət diapazonu | ±6,5 mm |
| Mühərrikin impuls eni yaxınlaşır | 10±2ms |
| Şəkil seçmə nöqtəsi | 256×256,512×512 |
| Optik böyütmə | 4X |
| Optik ayırdetmə | 2,5 mm |
| Skan dərəcəsi | 0,6Hz~4,34Hz |
| Skan bucağı | 0°~360° |
| Skanlama nəzarəti | XY istiqamətində 18 bitlik D/A,Z istiqamətində 16-bit D/A |
| Məlumatların seçilməsi | 14 bitA / D,double16-bit A/D çoxkanallı sinxron seçmə |
| Əlaqə | DSP rəqəmsal rəy |
| Rəy seçmə dərəcəsi | 64,0 KHz |
| Kompüter interfeysi | USB2.0 |
| Əməliyyat mühiti | Windows98/2000/XP/7/8 |